[发明专利]测试装置及测试模块无效
| 申请号： | 201110028842.4 | 申请日： | 2011-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN102193058A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 森田直志;小石哲也;矢口刚史 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明有效地使用测试模块具有的资源，提供测试至少1个被测试设备的测试装置，该测试装置具有测试模块，其具有在与被测试设备之间传送信号，测试该被测试设备的多个测试部；多个测试控制部，控制上述多个测试部；所述测试模块，能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 模块 | ||
【主权项】：
一种测试装置，是测试至少1个被测试设备的测试装置，具有：测试模块，其具有在与被测试设备之间传送信号、测试该被测试设备的多个测试部；多个测试控制部，控制所述多个测试部；所述测试模块，能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱德万测试株式会社，未经爱德万测试株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110028842.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
