[发明专利]用于去除缺陷像素的装置和方法有效
| 申请号： | 201110032434.6 | 申请日： | 2011-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN102158660A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 朴珉奎;宋汉世;朴喜灿;尹泳权;李庸求 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/367 | 分类号： | H04N5/367;H04N5/378 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本申请提供一种通过Bayer模式使用信号处理机制去除缺陷像素的方法，通过：根据中心像素与颜色同中心像素的颜色相同的相邻像素的均值之间的差是否大于或等于阈值来确定通道间的输出值；以及使用最接近中心像素的相邻像素的值作为输入，通过找出包括中心像素的垂直线和水平线的中值、包括中心像素的对角线的中值以及中心像素的值当中的中值，得到跨通道的输出值。然后，通过使用通道间的输出值、跨通道的输出值以及中心像素的值来去除缺陷像素。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 去除 缺陷 像素 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种在缺陷像素去除装置中去除缺陷像素的方法，该方法包括：利用中心像素的值以及颜色与该中心像素的颜色相等的相邻像素的均值，确定通道间的输出值；利用颜色不同于该中心像素的颜色并且与该中心像素相接的相接相邻像素的值，确定跨通道的输出值；输出该中心像素的值；计算所述通道间的输出值、所述跨通道的输出值以及所述中心像素的值当中的最终中值；以及基于所计算的最终中值与所述中心像素的值之间的差去除缺陷像素。
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