[发明专利]短样本密集频率信号的参数测量方法

摘要

一种短样本密集频率信号的参数测量方法：以采样频率fs对输入的模拟信号x(t)进行等间隔采样获得2N-1个离散样本x(n)；对x(n)进行apFFT变换后得到复序列Xa(k)，取其模值得振幅谱后搜索出谱峰位置k＝k0；为缩短频域搜索区间，取以k0Δω为中心的频段ω∈[(k0-1)Δω，(k0+2)Δω]，Δω＝2π/N，将x(n)在该频段上做apDTFT变换，取此变换的相位谱；观察相位谱曲线特征，若相位谱曲线呈现平直分布特征，则为单频情况；若相位谱曲线呈现等幅振荡，则判断为双频分布情况，则进一步估测出两个密集成分的频率、幅值和相位值；除此之外则为成分数大于或等于3个成分的多频情况。本发明具有精度可控的特点。

主权项

一种短样本密集频率信号的参数测量方法，其特征在于，包括如下步骤：1)首先以采样频率fs对输入的模拟信号x(t)进行等间隔采样获得2N‑1个离散样本x(n)；1)对x(n)进行apFFT变换后得到复序列Xa(k)，取其模值得振幅谱后搜索出谱峰位置k＝k0；3)为缩短频域搜索区间，取以k0Δω为中心的频段ω∈[(k0‑1)Δω，(k0+2)Δω]，Δω＝2π/N，将x(n)在该频段上做apDTFT变换，取此变换的相位谱；4)观察相位谱曲线特征，若相位谱曲线呈现平直分布特征，则判断为单频情况，这时不存在密集谱识别问题；若相位谱曲线呈现等幅振荡，且具有宽过渡带特征，则判断为双频分布情况；除此之外则为成分数大于或等于3个成分的多频情况；5)若判断为双频情况，则进一步估测出两个密集成分的频率、幅值和相位值。