[发明专利]基于激光跟踪仪的天线反射面装调方法无效

专利信息
申请号: 201110034428.4 申请日: 2011-02-01
公开(公告)号: CN102176546A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: 周国锋;李晓星;何国瑜;李东升;常和生;方程 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: H01Q19/10 分类号: H01Q19/10;H01Q15/14
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 李有浩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于激光跟踪仪的天线反射面装调方法,该方法(一)横平竖直找基准,建立以大地水平为基准、以反射面设计坐标为原点、与现场协调的现场装调坐标系;(二)四点调节粗定位,在现场装调坐标系下测量标志点,计算第一调整量调整标志点,保证调整误差小于等于±2mm;(三)边缘最佳匀缝隙,通过边缘最佳拟合计算第二调整量调整边缘,保证标志点误差小于等于±0.5mm,缝隙宽度小于等于(0.1±0.05)λ;(四)单块精调定型面,通过限制三自由度型面最佳拟合,计算第三调整量调整型面,保证调整误差小于等于±0.02mm。本发明能提高天线反射面装调效率,缩短装调工期,保证装调质量,特别适合由多块反射面拼装而成的大型天线的装调。
搜索关键词: 基于 激光 跟踪 天线 反射 面装调 方法
【主权项】:
一种基于激光跟踪仪的天线反射面装调方法,所需一台激光跟踪仪进行标志点坐标测量,计算机控制系统中存储有装调处理单元,其特征在于所述装调处理单元中的装调方法包括有:步骤一:建立天线安装坐标系o*‑x*y*z*步骤;步骤二:四点调节粗定位步骤;步骤三:边缘最佳匀缝隙步骤;步骤四:单块精调定型面步骤。
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