[发明专利]利用光学方法测量带电粒子束能量的装置有效

专利信息
申请号: 201110034578.5 申请日: 2011-02-01
公开(公告)号: CN102621575A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 欧阳晓平;刘金良;张忠兵;陈亮;韩长才 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01T1/36
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710024 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种利用光学方法测量带电粒子束能量的装置,包括发光组件和至少一组成像组件,发光组件包括密封的闪烁发光腔体,闪烁发光腔体中填充有气体闪烁体,成像组件包括设置在闪烁发光腔体上的遮光筒、镜头以及成像装置。本发明解决了现有的带电粒子束能量测量装置结构复杂、使用时受辐射场强度限制等技术问题,能同时应用于稳态和脉冲辐射场,具有测量直观、能量分辨好、适用于多种带电粒子束能量测量、量程范围宽且简单方便可调的优点。
搜索关键词: 利用 光学 方法 测量 带电 粒子束 能量 装置
【主权项】:
一种利用光学方法测量带电粒子束能量的装置,其特征在于:包括发光组件和至少一组成像组件,所述发光组件包括沿粒子入射方向依次设置的准直屏蔽体和密封的闪烁发光腔体,所述闪烁发光腔体上设置有正对粒子束入射方向的入射窗口,所述闪烁发光腔体上还设置有与成像组件数量一致、位置一一对应的光学窗口,所述闪烁发光腔体中填充有气体闪烁体,所述成像组件包括设置在闪烁发光腔体上且套接在光学窗口上的遮光筒、设置在遮光筒内部的镜头以及设置在遮光筒另一端的成像装置。
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