[发明专利]部件测试装置无效
| 申请号： | 201110035229.5 | 申请日： | 2009-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN102175964A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 盐泽雅邦;藤森广明 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了进行电子部件的测试的部件测试装置。该部件测试装置包括部件供给装置、输送爪和部件排出装置。上述多个功能台相互具有不同的功能，同时沿上述输送爪的移动方向等间隔地被排列。上述输送爪包括可分别保持上述电子部件且可相互独立地驱动的多个定位单元。上述多个定位单元沿从上述供给位置向上述测试位置的上述电子部件的输送方向以与上述功能台的排列间隔相同的间隔被排列。 | ||
| 搜索关键词： | 部件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种部件测试装置，用于进行电子部件测试，所述部件测试装置的特征在于，包括：部件保持部，能够保持所述电子部件；多个定位单元，包括所述部件保持部；多个输送爪，包括多个所述定位单元；水平移动体，用于使所述输送爪移动；以及多个座，用于放置所述电子部件，其中，多个所述定位单元分别包括用于将所述电子部件压入所述座的压入机构，多个所述座沿所述输送爪的移动方向配置，相邻的所述座的中心之间的距离、即座中心间距离与相邻的所述定位单元的中心之间的距离、即定位单元中心间距离相等。
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