[发明专利]发光二极管及其制造方法有效
申请号: | 201110036736.0 | 申请日: | 2011-02-12 |
公开(公告)号: | CN102136532A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 肖德元;张汝京;程蒙召;饶青 | 申请(专利权)人: | 映瑞光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/20;H01L33/10;H01L33/36 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市临港*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种发光二极管及其制造方法,包括:提供(100)晶面的硅衬底;湿法刻蚀硅衬底,将硅衬底的一部分转变为(111)晶面,从而使得硅衬底表面呈锥形;在硅衬底的(111)晶面上形成分布布拉格反射层、第一导电类型半导体层、有源层以及第二导电类型半导体层;形成贯穿硅衬底和分布布拉格反射层的接触插塞;在硅衬底远离第一导电类型半导体层的表面上形成第一电极,第一电极通过接触插塞与第一导电类型半导体层电连接;在第二导电类型半导体层上形成第二电极。本发明可提高发光二极管的光利用率,并且散热效果更好,有利于节约芯片面积;该分布布拉格反射层可减小硅衬底中的吸收损耗,提高发光二极管的发光强度。 | ||
搜索关键词: | 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种发光二极管制造方法,包括:提供(100)晶面的硅衬底;在所述硅衬底上形成图形化掩膜层;以所述图形化掩膜层为掩膜,湿法刻蚀所述硅衬底,将所述硅衬底的一部分转变为(111)晶面,从而使得所述硅衬底表面呈锥形;去除所述图形化掩膜层;在所述硅衬底的(111)晶面上形成分布布拉格反射层;在所述分布布拉格反射层上依次形成第一导电类型半导体层、有源层以及第二导电类型半导体层;形成贯穿所述硅衬底和分布布拉格反射层的接触插塞;在所述硅衬底远离第一导电类型半导体层的表面上形成第一电极,所述第一电极通过接触插塞与第一导电类型半导体层电连接;在所述第二导电类型半导体层上形成第二电极。
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