[发明专利]一种P型中低阻硅芯载体的制作方法无效

专利信息
申请号: 201110037060.7 申请日: 2011-02-14
公开(公告)号: CN102162122A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 王体虎;施正荣 申请(专利权)人: 亚洲硅业(青海)有限公司
主分类号: C30B13/00 分类号: C30B13/00
代理公司: 西宁金语专利代理事务所 63101 代理人: 哈庆华
地址: 810007 青海省西宁市*** 国省代码: 青海;63
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摘要: 一种P型中低阻硅芯载体的制作方法,本发明涉及一种P型中低阻硅芯载体的制作方法,尤其是一种用化学气相沉积方法制备高纯度多晶硅过程中,所需要的P型中低阻硅芯载体的制作方法。该方法的特点是包含以下步骤:选取高纯原料硅锭;在原料硅锭端头处钻一柱形孔,清洗并干燥该孔;将处理后的原料硅锭放置入区熔炉内并固定;从冷藏箱内迅速取出适量高纯金属镓放进原料硅锭端头的柱形孔内,封口;进行区熔拉制硅芯操作后,得到P型中低阻硅芯载体。用该方法制作的载体掺杂均匀,可以降低或基本抑制晶硅光伏电池的光致衰减现象,解决了多晶硅化学气相沉积用N型硅芯载体电阻率不均匀和额外补偿的问题。
搜索关键词: 一种 型中低阻硅芯 载体 制作方法
【主权项】:
一种P型中低阻硅芯载体的制作方法,其特征在于该方法包含以下步骤:a.选取高纯原料硅锭;b.在原料硅锭端头处钻一柱形孔,清洗并干燥该孔;c.将处理后的原料硅锭放置入区熔炉内并固定;d.从冷藏箱内迅速取出适量高纯金属镓放进原料硅锭端头的柱形孔内,封口;金属镓用量MGa的计算方法为:MGa= CS*mGa*VR / NA*KoCs(cm‑3)是硅中掺杂镓元素的预期浓度,mGa为Ga的原子量,NA为阿伏伽德罗常数,VR(cm3)是区熔时的熔区体积,K0为镓的平衡分凝系数,K0=0.008;e.进行区熔拉制硅芯操作。
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