[发明专利]阴影校正设备、方法及程序无效

专利信息
申请号: 201110037608.8 申请日: 2011-01-31
公开(公告)号: CN102188255A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 桑原健 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 刘光明;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种用于在使用放射线检测器拍摄被摄体的放射线图像时允许适当的阴影校正的设备和方法。阴影校正数据取得单元(42)预先取得用于归因于放射源(14)的阴影的第一阴影校正数据(H1)以及用于归因于盒体(20A、20B)的FPD(22A、22B)的阴影的第二阴影校正数据(H2A、H2B),并且所取得的阴影校正数据被储存在存储单元(38)中。在使用盒体(20A)成像的过程中,例如,检测单元(40)检测FPD(22A)的定向,并且图像处理单元(34)基于所检测到的定向而使第一阴影校正数据(H1)相对于第二阴影校正数据(H2A、H2B)转动,以生成最终的阴影校正数据(H0)。然后,使用最终的阴影校正数据(H0)对通过成像而取得的放射线图像数据施加阴影校正。
搜索关键词: 阴影 校正 设备 方法 程序
【主权项】:
一种用于对表示被摄体的放射线图像的放射线图像数据施加阴影校正的阴影校正设备,所述放射线图像通过利用放射线检测器来检测从放射线源射出并且透射穿过所述被摄体的放射线而取得,所述设备包括:存储装置,用于储存用于校正归因于所述放射线源的阴影的第一阴影校正数据,以及用于校正归因于所述放射线检测器的阴影的第二阴影校正数据;阴影校正数据取得装置,用于依据所述放射线源与所述放射线检测器之间的转动位置关系,而使所述第一和第二阴影校正数据相对于彼此转动,并且由转动后的第一和第二阴影校正数据取得最终的阴影校正数据;以及校正装置,用于使用所述最终的阴影校正数据来校正所述放射线图像数据的阴影。
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