[发明专利]半导体探测器γ/X射线电荷收集效率的测量方法及系统有效
| 申请号： | 201110038487.9 | 申请日： | 2011-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN102636805A | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 欧阳晓平;雷岚;谭新建 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710024 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明涉及半导体探测器γ/X射线电荷收集效率的测量方法及系，包括以下步骤：1.1]确定所需杂散电子过滤片的厚度，并将其紧贴式放置在待测半导体探测器前端；1.2]测量待测半导体探测器对辐射响应的信号电流 |
||
| 搜索关键词： | 半导体 探测器 射线 电荷 收集 效率 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种半导体探测器γ/X射线电荷收集效率的测量方法，包括以下步骤：1.1]确定所需杂散电子过滤片的厚度，并将其紧贴式放置在待测半导体探测器前端；1.2]测量待测半导体探测器对辐射响应的信号电流![]()
计算单位时间内辐射在待测半导体探测器内产生的总电荷量Imth；1.3]计算待测半导体探测器γ/X射线电荷收集效率η：η = I ‾ me I mth .
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110038487.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种直饮机进水口顶盖防震结构
- 下一篇：电机下置式豆浆机
