[发明专利]NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统无效
| 申请号： | 201110040836.0 | 申请日： | 2011-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN102646453A | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | 葛保建;谢树;黄杰成;操冬华;张宇;胡胜发 | 申请（专利权）人： | 安凯（广州）微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 赵景平;逯长明 |
| 地址： | 510663 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法及系统，所述方法包括：产生预定个数的随机数据；获取所述随机数据的ECC校验数据；根据所述随机数据生成测试数据；在关闭ECC功能的模式下将所述测试数据和所述ECC校验数据写入NandFlash；在开启ECC功能的模式下从所述NandFlash中读取写入的测试数据；如果ECC模块报错，则确定所述ECC模块功能正常；否则确定所述ECC模块功能异常。利用本发明，可以实现对ECC模块的验证，保证其逻辑功能的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | nandflash 控制器 错误 校正 模块 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种NandFlash控制器中错误校正码模块的测试方法，其特征在于，包括：产生预定个数的随机数据；获取所述随机数据的ECC校验数据；根据所述随机数据生成测试数据；在关闭ECC功能的模式下将所述测试数据和所述ECC校验数据写入NandFlash；在开启ECC功能的模式下从所述NandFlash中读取写入的测试数据；如果ECC模块报错，则确定所述ECC模块功能正常；否则确定所述ECC模块功能异常。
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