[发明专利]一种双盘容错磁盘阵列中单盘重构的方法无效
| 申请号： | 201110045773.8 | 申请日： | 2011-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN102103533A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 曹强;万胜刚;黄建忠;谢长生;詹盛辉 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F11/16 | 分类号： | G06F11/16;G06F3/06 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 朱仁玲 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种双盘容错磁盘阵列中单盘重构的方法，该方法首先选取第一个失效元素所在的任意一条校验链，利用该校验链重构第一个失效元素；之后再选取下一个失效元素所在的一条校验链，且该校验链与所有已用于重构失效元素的校验链具有最多交点，利用该校验链重构失效元素，如此反复，直至重构出所有失效元素。在传统的单盘重构过程中，所有失效的元素都使用同一类型校验链来重构，几乎所有未失效的元素都要被读取。本发明所述的方法通过使用不同类型的校验链来重构，通过重复利用相同的元素于不同校验链来重构，使得很多未失效的元素不必被读取，大大减少了磁盘I/O量，提高了数据恢复速度，提供了更好的系统性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 容错 磁盘阵列 中单盘重构 方法 | ||
【主权项】：
一种双盘容错磁盘阵列中单盘重构的方法，在所述的双盘容错磁盘阵列中任意一个数据盘失效时，该方法包括以下步骤：（1）任意选取第一个失效元素所在的一条校验链，读取该校验链上除失效元素外的所有元素，利用读取的元素重构第一个失效元素；（2）选取下一个失效元素所在的一条校验链，且该校验链与所有已用于重构失效元素的校验链具有最多交点，读取该校验链上除失效元素外所有未被读取的元素，利用该校验链上除失效元素外的所有元素来重构该校验链上的失效元素；（3）重复进行步骤（2），直至重构出所有失效元素。
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