[发明专利]自动光学检验设备及其校正方法无效

专利信息
申请号: 201110046752.8 申请日: 2011-02-25
公开(公告)号: CN102156357A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 周炳宏;贺成明 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01N21/958
代理公司: 广东国晖律师事务所 44266 代理人: 陈琳
地址: 518057 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种自动光学检验设备及其校正方法。所述自动光学检验设备包括机台与摄像件,机台包括用于放置产品片的第一固定座,以及用于放置标准片的第二固定座,第二固定座设置于第一固定座上方,摄像件设置于机台上方,用于在预定时刻向上移动一预定距离,对第二固定座上的标准片进行扫描以实现校正。本发明将自动光学检验设备的校正流程予以自动化,进而降低整体作业时间。
搜索关键词: 自动 光学 检验 设备 及其 校正 方法
【主权项】:
一种自动光学检验设备,其特征在于,包括:一机台,包括用于放置产品片的第一固定座,以及用于放置标准片的第二固定座,第二固定座设置于第一固定座上方;以及一第一摄像件,设置于所述机台上方,用于在预定时刻向上移动一预定距离,再对第二固定座上的标准片进行扫描以实现校正。
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