[发明专利]一种基于光子集成回路的微波频率瞬时测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201110048549.4 申请日: 2011-03-01
公开(公告)号: CN102156221A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 潘时龙;顾戎;朱丹;陈刚 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 许方
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公布了一种基于光子集成回路的微波频率瞬时测量装置及方法。所述装置包括激光器,光子集成回路,第一光电探测器,第二光电探测器和微波幅度比较及信号处理模块。所述方法如下:激光进入集成回路后,分成上下两路,分别受微波信号控制获得相反的相位调制。上路信号与部分下路信号合光后形成强度信号a;剩余下路信号经波导光栅转换成强度信号b。两信号a和b经光电探测器后进行幅度比较。由于波导光栅的响应设计为线性,被监测参数与微波频率具有单一映射关系(正比),从而实现待测信号频率的瞬时测量。本装置在给定测量精度下具有最大测量范围,校准仅需单频源,可测量脉冲信号的中心频率。本发明具有体积小、可靠性高、复杂度低等优点。
搜索关键词: 一种 基于 光子 集成 回路 微波 频率 瞬时 测量 装置 方法
【主权项】:
一种基于光子集成回路的微波频率瞬时测量装置,其特征在于包括:激光器 (100);光子集成回路(200),该光子集成回路(200)包含了一个马赫‑曾德尔强度调制器和一个波导光栅,其中波导光栅与强度调制器的下臂连接;该光子集成回路(200)的第一端口A与激光器(100)连接,第二端口B提供待测微波信号输入;第一光电探测器(300),该第一光电探测器(300)与光子集成回路(200)的第三端口C连接;第二光电探测器(400),该第二光电探测器(400)与光子集成回路(200)的第四端口D连接;微波幅度比较及信号处理模块(500),该微波幅度比较及信号处理模块(500)的两个端口分别与第一光电探测器(300)和第二光电探测器(400)连接。
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