[发明专利]KDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法

摘要

一种KDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法，该方法的实质是将的待测的KDP晶体置于数字全息干涉测量装置的探测光路中，探测晶体内体损伤的相位分布轮廓，即二维相位分布图像；对待测晶体进行角度扫描，对各角度采样点下获取的二维相位分布图像的傅里叶变换进行逆傅里叶变换重构体损伤的三维相位分布形貌。该体损伤的三维精细结构不但可以作为定性描述激光损伤特性的重要参数，还将成为关联光损伤宏观特征和微观机制的关键环境，在探索KDP/DKDP晶体激光损伤机理和提高光损伤阈值方面有重要应用。

主权项

一种KDP晶体高功率激光体损伤三维测量方法，采用数字全息干涉测量装置进行测量，该数字全息干涉测量装置的构成包括激光器(4)、扩束准直装置(5)、分光镜(6)、第一反射镜(7)、第二反射镜(8)、合束镜(9)、透镜(10)、CCD探测器(11)和计算机(12)，各部件的位置关系如下：在该激光器(4)的激光输出方向设置扩束准直装置(5)、分光镜(6)，该分光镜(6)将输入的激光分为透射光和反射光，所述的透射光经待测的晶体(3)、第一反射镜(7)反射进入合束镜(9)，所述的反射光经第二反射镜(8)反射进入合束镜(9)，带有待测晶体(3)的信息的透射光和反射光经合束镜(9)合束相干，再经透镜(10)成像由CCD探测器(11)探测并输入所述的计算机(12)，该计算机(12)具有数字全息干涉测量处理软件；其特征在于该方法包括下列步骤：①将光损伤前的待测的KDP晶体置于所述的数字全息干涉测量装置的测量光路中；②使待测的KDP晶体与所述的数字全息干涉测量装置的探测光路成一定角度θ，启动所述的数字全息干涉测量装置，所述的激光器(4)输出的激光经扩束准直装置(5)扩束准直后进入分光镜(6)，该分光镜(6)将输入的激光分为透射光和反射光，所述的透射光经待测的KDP晶体(3)、第一反射镜(7)反射进入合束镜(9)形成测量光路，所述的反射光经第二反射镜(8)反射进入合束镜(9)形成参考光，带有待测晶体(3)的信息的透射光和参考光经合束镜(9)合束相干再经透镜(10)成像并由CCD探测器(11)记录待测KDP晶体内体损伤的相位分布轮廓，即待测的KDP晶体的一幅二维相位分布图像并存入计算机(12)；③选定角度扫描的角度间隔Δθ，不断转动待测的KDP晶体进行角度扫描，重复步骤②获得一系列不同角度下的二维相位分布图像并存入计算机(12)；④将光损伤后的KDP晶体置于所述的数字全息干涉测量装置的测量光路中，重复步骤②和步骤⑧。⑤计算机(12)对所述的同一角度下损伤前后的相位相减，得到一系列不同角度下相位差分布图像的傅里叶变换，通过逆傅里叶变换重构出待测的KDP晶体的体损伤的三维相位分布形貌。