[发明专利]试样中的被检测物质的检测方法有效

专利信息
申请号: 201110050619.X 申请日: 2004-05-21
公开(公告)号: CN102183569A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 松本和彦;武笠幸一;石井睦;武田晴治;泽村诚;阿古斯·史巴业;细井浩贵;末冈和久;喜田宏;迫田义博 申请(专利权)人: 独立行政法人科学技术振兴机构
主分类号: G01N27/414 分类号: G01N27/414
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;陈彦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及试样中的被检测物质的检测方法。该检测方法为用至少具有衬底、和在形成于所述衬底上面的第1绝缘薄膜上具有隔着规定间隔而对向设置的源极和漏极的沟道的传感器来检测试样中的被检测物质的方法。本发明通过为所述构成,可以提供能降低噪音、且具有比以往远远优异灵敏度的试样中的被检测物质的检测方法。
搜索关键词: 试样 中的 检测 物质 方法
【主权项】:
一种试样中的被检测物质的检测方法,其特征在于,为用至少具有衬底、和在形成于所述衬底上面的第1绝缘薄膜上具有隔着规定间隔而对向设置的源极和漏极的沟道的传感器来检测试样中的被检测物质的方法,所述沟道由超微细纤维构成,在所述衬底的与所述沟道相反侧的面上形成有第2绝缘薄膜,在所述第2绝缘薄膜的外侧设置后栅极,所述第2绝缘薄膜被与被检测物质相互作用的特定物质修饰,在所述修饰部分和所述后栅极之间滴加所述试样的溶液后,使所述试样溶液的溶剂蒸发。
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