[发明专利]自保持模拟芯核测试外壳无效
| 申请号： | 201110053108.3 | 申请日： | 2011-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN102156257A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 靳洋;王红;杨士元;李积惠 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 童晓琳 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了电子信息技术片上系统设计技术领域中的一种自保持模拟芯核测试外壳。包括模拟测试输入激励通路、自保持模拟测试接口、测试控制器、输出模拟开关、模拟测试响应输出通路。模拟测试输入激励通路与自保持模拟测试接口相连，自保持模拟测试接口与测试控制器相连，测试控制器与输出模拟开关相连，输出模拟开关与模拟测试响应输出通路相连；自保持模拟测试接口和输出模拟开关分别与模拟芯核相连。本发明实现了复用单个DAC和ADC多端口的模拟测试激励施加和测试响应分析。 | ||
| 搜索关键词： | 保持 模拟 测试 外壳 | ||
【主权项】：
一种自保持模拟芯核测试外壳，其特征是所述外壳包括模拟测试输入激励通路，用于接收数字/模拟转换器输出的测试激励；与所述模拟测试输入激励通路相连的自保持模拟测试接口，用于保持从模拟测试输入激励通路接收的测试激励，并在测试控制器的控制下，分时施加到模拟芯核；与自保持模拟测试接口相连的测试控制器，用于控制自保持模拟测试接口，将测试激励分时施加到模拟芯核；还用于将模拟芯核产生的测试响应分时施加到输出模拟开关；与所述测试控制器相连的输出模拟开关，用于将接收的测试响应发送到模拟测试响应输出通路；与所述输出模拟开关相连的模拟测试响应输出通路，用于将测试响应发送到模拟/数字转换器。
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