[发明专利]一种功率器件衬底背面的离子注入方法有效
申请号: | 201110054844.0 | 申请日: | 2011-03-08 |
公开(公告)号: | CN102157363A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 李泽宏;肖璇;张超;吴宽;谢加雄;李婷;刘小龙 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/02;H01L21/265 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种功率器件衬底背面的离子注入方法,属于半导体功率器件技术领域。本发明在完成功率器件正面工艺步骤后,在完成离子注入(离子注入之前可对衬底背面进行减薄或不减薄处理)和离子激活后,不像传统工艺直接进行金属铝层淀积,而是采用腐蚀或研磨的方法将衬底背面减薄至杂质注入层之后再淀积金属铝层,这样能够减小后续淀积的金属铝与衬底之间的接触电阻,消除不必要的寄生多层结构,使功率器件的漏电流、通态压降和开关时间降低。本发明适用于体硅、碳化硅、砷化镓、磷化铟或锗硅等半导体材料制作的功率半导体器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 器件 衬底 背面 离子 注入 方法 | ||
【主权项】:
一种功率器件衬底背面的离子注入方法,在完成功率器件正面工艺步骤后,进行包括下述步骤的操作:步骤1:在功率器件衬底背面注入硼或磷杂质离子;步骤2:杂质离子激活;步骤3:功率器件衬底背面减薄至杂质注入层;步骤4:采用溅射或者蒸发方法在功率器件衬底背面生长金属铝层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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