[发明专利]双精度SIMD部件芯片级验证测试激励自动生成方法

摘要

本发明公开了一种双精度SIMD部件芯片级验证测试激励自动生成方法，目的是提出一种自动生成双精度SIMD部件芯片级验证测试激励的方法。技术方案为：先根据所要验证的双精度数据运算类型以及数组长度scale，构造进行双精度数组操作的标准C语言程序foo.c，然后基于foo.c以及所要验证的运算，构造作为测试激励的汇编语言源程序simd.s。采用本发明可以自动生成一个汇编语言测试激励simd.s，将simd.s加载到芯片模拟环境中运行，可以执行双精度SIMD指令对处理器的设计进行芯片级验证。本发明可以编程实现，多次运行该程序，输入不同的运算类型和数组长度，即可自动生成多种测试激励，可以极大地减少开发面向双精度SIMD部件进行芯片级验证所需的测试激励的时间。

主权项

一种双精度SIMD部件芯片级验证测试激励自动生成方法，其特征在于包括以下步骤：第一步，根据所要验证的双精度数据运算类型以及数组长度scale，构造进行双精度数组操作的标准C语言程序foo.c，方法是：1.1 生成一个空的C语言源程序文件foo.c；1.2 向foo.c文件中写入标准C语言程序文本，包括如下内容：1.2.1 包含标准头文件的语句；1.2.2 全局数组声明语句，包括声明用作输入数据的一维双精度数组src1和src2的语句、声明用作保存正确结果的一维双精度数组golden_result的语句，以及声明用作保存计算结果的一维双精度数组result的语句，数组的长度都为scale；src1和src2声明中的数组初值由双精度数据随机生成程序生成；golden_result数组声明中的初始数据根据所要验证的运算类型对src1和src2数组进行运算得到；1.2.3 C程序主函数代码：包括对两个输入数组元素进行运算并将结果写入result数组的语句；对golden_result数组元素和result数组元素进行比较并当结果不同时报出警告信息的程序语句；第二步，基于foo.c以及所要验证的运算，构造作为测试激励的汇编语言源程序simd.s，方法是：2.1 用面向目标处理器的编译器编译foo.c程序，用“‑S”编译选项控制编译器将foo.c编译为汇编语言程序文本foo.s；2.2 创建simd.s文件；2.3 向simd.s文件中写入如下内容：2.3.1 包含测试激励公共头文件的代码；2.3.2 汇编语言程序文本段声明语句；2.3.3 将4个数组src1，src2，golden_result和result的基地址写入寄存器的汇编语句；2.3.4 根据数组长度设置循环控制寄存器初始值的语句；2.3.5 根据所要验证的运算，写入用SIMD指令进行数组读取和操作的语句；2.3.6 结果比较语句以及根据比较结果跳转到相应自陷语句的汇编语句；2.3.7 自陷语句；2.3.8 数据段声明语句，数据对齐方式为“.align 32”；2.3.9 foo.s文件中读取的src1、src2、golden_result、result数组数据段的内容。