[发明专利]SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法无效
| 申请号： | 201110057651.0 | 申请日： | 2011-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN102156258A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 俞洋;彭宇;杨智明;陈叶富;邓立宝;彭喜元 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张宏威 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法，涉及系统芯片测试技术领域。本发明解决了现有基于BFD算法实现测试封装扫描链平衡方法以及基于平均值近似的SoC扫描链平衡方法中存在的不足。本发明的测试封装扫描链平衡方法的过程为：首先，计算Wrapper扫描链长度平均值；然后，根据获得的长度平均值确定误差限，所述误差限为所述长度平均值的1％至3％；最后，根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间，把该取值区间作为全局优化的指导原则，实现测试封装扫描链平衡。本发明采用Wrapper扫描链平衡算法的原理实现缩短单个IP核测试时间这一目标，进而缩短SoC测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | soc 测试 中的 基于 平均值 余量 封装 扫描 平衡 方法 | ||
【主权项】：
SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法，其特征在于该方法的过程为：首先，计算Wrapper扫描链长度平均值；然后，根据获得的长度平均值确定误差限，所述误差限为所述长度平均值的1％至3％；最后，根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间，把该取值区间作为全局优化的指导原则，实现测试封装扫描链平衡。
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