[发明专利]利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置及测量方法有效
| 申请号： | 201110058297.3 | 申请日： | 2011-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN102192882A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 连洁;宋平;薛其坤;王晓;钟浩然;李萍;高尚;马峥;吴仕梁;王英顺 | 申请（专利权）人： | 山东大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/01 |
| 代理公司： | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人： | 许德山 |
| 地址： | 250100 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置及测量方法，属广义椭偏测量技术领域。装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；光路系统位于激光光源之后；电磁铁位于光路系统中的样品台两侧以形成匀强磁场；探测器的输出端连接到锁相放大器的输入端上；锁相放大器的输出端连接PC。本发明测量方法将斩波器、锁相放大器引入测量光路中，用斩波器将直流转换成交流光信号，由探测器输入锁相放大器中，经电脑编程控制锁相放大器采集处理数据，可测得坡莫合金的N和Q，具有很高的精度，大大降低了试验成本。该方法操作简单、测量准确。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 放大器 进行 磁光椭偏 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置，包括电源、激光光源、光路系统、电磁铁、锁相放大器和PC机，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；光路系统位于激光光源之后；电磁铁位于光路系统中的样品台两侧以形成匀强磁场，使得样品在测量时处在匀强磁场中；探测器的输出端连接到锁相放大器的输入端上；锁相放大器的输出端连接PC机，以观察记录并计算测量结果。
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