[发明专利]检测机台、检测方法与检测系统无效
申请号: | 201110059097.X | 申请日: | 2011-03-11 |
公开(公告)号: | CN102486536A | 公开(公告)日: | 2012-06-06 |
发明(设计)人: | 谢孝樑;林文迪;谢祥政 | 申请(专利权)人: | 隆达电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44;G01M11/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种检测机台、检测方法与检测系统。检测机台适于对发光元件进行光学及电性检测。此检测机台包括基板平台、探针机构、加热装置、冷却装置、影像感测装置、感温装置以及移动台。探针机构适于往基板平台靠近而与发光元件接触。加热装置适于加热发光元件以使发光元件维持于第一温度范围内。冷却装置冷却发光元件以使发光元件维持于第二温度范围内。影像感测装置感测发光元件产生的发光影像。感温装置感测发光元件目前的温度。影像感测装置装设于移动台上,其中移动台适于移动影像感测装置。本发明也提供一种检测方法与检测系统适用于上述检测机台。 | ||
搜索关键词: | 检测 机台 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种检测机台,适于对发光元件进行光学及电性检测,所述检测机台包括:基板平台,其中所述发光元件配置于所述基板平台上;探针机构,设置于所述基板平台上方,且所述探针机构适于往所述基板平台靠近而与所述发光元件接触;加热装置,设置于所述基板平台的下方并适于加热所述发光元件,以使所述发光元件维持于一第一温度范围内,其中当所述发光元件处于所述第一温度范围内时,与所述发光元件接触的所述探针机构适于传递一第一驱动信号至所述发光元件,以驱动所述发光元件;冷却装置,设置于所述基板平台的下方并适于冷却所述发光元件,以使所述发光元件维持于一第二温度范围内,其中当所述发光元件处于所述第二温度范围内时,与所述发光元件接触的所述探针机构适于传递一第二驱动信号至所述发光元件,以驱动所述发光元件;影像感测装置,设置于所述发光元件的上方并适于感测所述发光元件被驱动时所产生的一发光影像;感温装置,设置于所述发光元件的上方,用以感测所述发光元件目前的一温度;以及移动台,设置于所述发光元件的上方,且所述影像感测装置装设于所述移动台上,其中所述移动台适于移动所述影像感测装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于隆达电子股份有限公司,未经隆达电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110059097.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。