[发明专利]作物冠层光谱指数测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201110059665.6 申请日: 2011-03-11
公开(公告)号: CN102207452A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 李民赞;李修华;张锋;张彦娥;郑立华;李树强 申请(专利权)人: 中国农业大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G08C17/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100193 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种作物冠层光谱指数测量系统与方法,包括:测量子系统,由多个相同结构的测量单元组成,用于采集光学信号,测量该光学信号的光强之后进行处理,将处理后得到的数据发送给控制子系统,所述光学信号包括作为入射光的太阳光以及所述太阳光在作物冠层的反射光,所述处理包括放大和采样处理;控制子系统,用于接收来自测量子系统的数据,并利用该数据计算作物冠层的光谱反射率;控制子系统还嵌入了作物冠层光谱指数计算模型,根据所述光谱反射率和计算模型来计算植被指数,并且显示和存储计算结果。本发明简化了作物冠层光谱指数测量系统的结构,提出了一种新的作物冠层光谱指数计算模型,并简化了测量方法,提高了测量结果的准确度。
搜索关键词: 作物 光谱 指数 测量 系统 方法
【主权项】:
一种作物冠层光谱指数测量系统,其特征在于,包括:测量子系统,由多个相同结构的测量单元组成,用于采集光学信号,测量该光学信号的光强之后进行处理,将处理后得到的数据发送给控制子系统,所述光学信号包括作为入射光的太阳光以及所述太阳光在作物冠层的反射光,所述处理包括放大和采样处理;控制子系统,用于接收来自测量子系统的数据,并利用该数据计算作物冠层的光谱反射率,再根据所述光谱反射率和嵌入在控制子系统中的用于计算作物冠层光谱指数的模型来计算光谱指数,并且显示和存储计算结果。
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