[发明专利]粘接片及其制造方法、以及半导体装置的制造方法及半导体装置有效

专利信息
申请号: 201110060467.1 申请日: 2005-09-30
公开(公告)号: CN102176407A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: 田中麻衣子;宇留野道生;松崎隆行;古谷凉士;增野道夫;稻田祯一 申请(专利权)人: 日立化成工业株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/68;H01L21/58
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;李昆岐
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明是粘接片及其制造方法、以及半导体装置的制造方法及半导体装置。本发明半导体装置制造方法包括:贴合步骤,对于依次层叠剥离基材、粘接层、粘着层及基材薄膜构成的、粘接层有规定的第1平面形状且部分性形成于剥离基材上、粘着层层叠为覆盖粘接层且于其周围与剥离基材接触的粘接片,剥下由粘接层、粘着层及基材薄膜所成的层叠体,隔着粘接层贴于半导体晶片,得到附层叠体半导体晶片;切割步骤,切割附层叠体半导体晶片,得到规定尺寸附层叠体半导体元件;剥离步骤,以高能量射线照射粘着层,使其粘着力降低后,剥离粘着层及基材薄膜,得到附粘接层半导体元件;粘接步骤,将附粘接层半导体元件,隔着粘接层粘接于半导体元件搭载用支持部件。
搜索关键词: 粘接片 及其 制造 方法 以及 半导体 装置
【主权项】:
半导体装置的制造方法,其特征为,包括:对于按照剥离基材、粘接层、粘着层及基材薄膜的顺序层叠所构成的、并且所述粘接层具有规定的第1平面形状且部分性地形成于所述剥离基材上、所述粘着层层叠为其覆盖所述粘接层且于所述粘接层的周围与所述剥离基材接触的粘接片,将由所述粘接层、所述粘着层及所述基材薄膜所成的层叠体从所述剥离基材上剥离,将所述层叠体以所述粘接层为中介贴合于半导体晶片,得到附有层叠体的半导体晶片的贴合步骤;通过切割所述附有层叠体的半导体晶片,得到规定尺寸的附有层叠体的半导体元件的切割步骤;以高能量射线照射所述层叠体的所述粘着层,使所述粘着层对于所述粘接层的粘着力降低后,将所述粘着层及所述基材薄膜从所述粘接层上剥离,得到附有粘接层的半导体元件的剥离步骤;将所述附有粘接层的半导体元件,以所述粘接层为中介粘接于半导体元件搭载用的支持部件的粘接步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立化成工业株式会社,未经日立化成工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110060467.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top