[发明专利]电子元件测试系统及其切换装置无效
| 申请号： | 201110060613.0 | 申请日： | 2011-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN102680745A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 杨子庆;翟皓纬;温耀星 | 申请（专利权）人： | 致茂电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/00;G01N21/84 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 郑小军;冯志云 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种电子元件测试系统及其切换装置，该测试系统用以对多个待测物进行测试，其包含第一测试装置、第二测试装置以及切换装置。第一测试装置用以对各待测物进行第一测试。第二测试装置用以对各待测物进行一第二测试。切换装置包含第一切换模块以及第二切换模块。第一切换模块设置于各待测物以及第一测试装置之间，第一切换模块用于将第一测试模块于各待测物间进行切换。第二切换模块设置于各待测物以及第二测试装置之间，第二切换模块用于将第二测试装置于各待测物间进行切换。本发明提出了利用低阶测试装备进行快速测试的电子元件测试系统，再者，解决了传统探针机端的待测物数量必须与测试装置所能同时测试的数量相同的制式限制。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 系统 及其 切换 装置 | ||
【主权项】：
一种电子元件测试系统，用以对多个待测物进行测试，该电子元件测试系统包含：一第一测试装置，用以对所述多个待测物进行一第一测试；以及一第一切换模块，该第一切换模块耦接于所述多个待测物及该第一测试装置，该第一切换模块用以将该第一测试装置于所述多个待测物间进行切换。
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