[发明专利]面向缺陷的路径覆盖测试数据进化生成方法

摘要

本发明公布了一种面向缺陷的路径覆盖测试数据进化生成方法，目的是使生成的测试数据更多地暴露目标路径中的缺陷，从而有效提高测试数据的质量。首先，以测试数据执行被测程序过程中发现的缺陷个数最多、缺陷的危险程度最大为目标，以测试数据必须穿越目标路径为约束，建立面向缺陷的路径覆盖测试数据生成问题的数学模型；然后，设计了解决该问题的约束多目标优化方法，使用遗传算法进化生成穿越目标路径同时能有效暴露缺陷的测试数据。本发明提出的方法解决了以往方法生成测试数据只是穿越目标路径，不能很好暴露目标路径中缺陷，尤其是一些小概率缺陷的问题；可用于白盒测试或回归测试的测试数据生成中，能大大提高软件测试的效力。

主权项

面向缺陷的路径覆盖测试数据进化生成方法，其特征在于如下步骤：步骤1.1：针对路径覆盖测试数据生成问题，本发明建立了一个面向缺陷的含约束多目标优化数学模型；步骤1.2：针对步骤1的数学模型设计了一种含约束的多目标进化优化的求解方法：分别将多个目标规范化处理后加权求和转化成单目标，再将约束转化成惩罚项，加入到该单目标中；步骤1.3：使用遗传算法实现上述方法，进化生成能够有效暴露被测程序中指定类型缺陷的测试数据，并针对C以及C++语言给出了5种类型缺陷的查找与认定的插装方法以及它们的危险程度表示方法。