[发明专利]照明系统、包含该照明系统的自动光学检测装置及其方法有效
| 申请号： | 201110062733.4 | 申请日： | 2011-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN102679236A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 程克林 | 申请（专利权）人： | 上海赫立电子科技有限公司 |
| 主分类号： | F21S8/00 | 分类号： | F21S8/00;F21V19/00;F21V5/04;F21V17/00;G01N21/956;F21Y101/02 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 薛琦;朱水平 |
| 地址： | 200333 上海市同普路1*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种照明系统、包含其的自动光学检测装置及其方法。该照明系统包含斜射照明单元和同轴落射照明单元，其分别在受检电路板上形成斜射照明区域和落射照明区域，而所述照明区域均覆盖该受检电路板受检区域。该自动光学检测装置还包括一垂设于照明系统上方的相机。该方法包括S1、启动该同轴落射照明单元，该相机获取该受检电路板的第一张图像；S2、关闭该同轴落射照明单元；S3、启动该斜射照明单元，该相机获取该受检电路板的第二张图像。S4、关闭该斜射照明单元。本发明可真实还原受检电路板的真实色彩，有效地区分红铜色铜箔焊盘上的薄形焊锡覆盖的焊盘和具有露铜缺陷的焊盘。同轴落射照明单元增强了对贴装元件焊接处的外观缺陷检测能力。 | ||
| 搜索关键词： | 照明 系统 包含 自动 光学 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种照明系统，其包含一斜射照明单元，该斜射照明单元包括若干第一发光元件，该斜射照明单元发射的光束在受检电路板上形成一斜射照明区域，其特征在于，该照明系统还包括一位于该斜射照明单元上方的同轴落射照明单元，该同轴落射照明单元发射的光束在受检电路板上形成一落射照明区域，所述斜射照明区域和落射照明区域均覆盖该受检电路板的受检区域。
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