[发明专利]电容检测装置和电容检测方法有效
申请号: | 201110065420.4 | 申请日: | 2011-03-11 |
公开(公告)号: | CN102221646A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | 藤由达巳;大井基史;尾屋隼一郎;泽田石智之 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的电容检测装置和电容检测方法即使在噪声多的环境下,也能够稳定地检测静电电容的变化。该电容检测装置包括:以规定周期将用于充电被检测电容(Cf、Cs)的电压电平切换为多个电压电平的开关(SW1、SW2);被分配充电到被检测电容(Cf、Cs)的电荷的多个分配电容(Cdp、Cdn);以规定周期将用于初始化分配电容(Cdp、Cdn)的电压电平设定为多个电压电平的第二开关(SW5、SW6);按照从被检测电容(Cf、Cs)互补地向分配电容分配电荷来作为相反极性的电荷量的方式,切换连接的其他开关(SW3、SW4);以及将充电到分配电容(Cdp、Cdn)的电荷变换为电压的电荷放大器(12)。 | ||
搜索关键词: | 电容 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种电容检测装置,其特征在于,包括:开关单元,其用于连接到被检测电容;一个或多个分配电容,被分配充电到所述被检测电容的电荷;电压电平供给单元,其供给用于对所述分配电容进行初始化和电荷分配的多个电压电平;以及电荷放大器,其将分配到所述分配电容的电荷作为电荷量来取出。
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