[发明专利]基于光子晶体平行线波导的流体折射率探测器无效
| 申请号： | 201110067162.3 | 申请日： | 2011-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN102156109A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 梁斌明;张礼朝 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 祖志翔 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光子晶体平行线波导的流体折射率探测器，其包括有激光器、光子晶体、第一光功率探头和第二光功率探头；所述光子晶体具有相互平行且相同的第一线缺陷波导和第二线缺陷波导，所述激光器位于第一线缺陷波导的左侧，并且向该第一线缺陷波导输入探测光，所述第一光功率探头位于所述第一线缺陷波导的右侧，并测定该第一线缺陷波导输出光的功率，所述第二光功率探头位于所述第二线缺陷波导的右侧，并测定该第二线缺陷波导输出光的功率。本发明具有结构简单、体积小巧、测量精度高、响应速度快、操作方便的优点，适用于流体折射率的大规模快速测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光子 晶体 平行线 波导 流体 折射率 探测器 | ||
【主权项】：
一种基于光子晶体平行线波导的流体折射率探测器，其特征在于：所述流体折射率探测器包括有激光器、光子晶体、第一光功率探头和第二光功率探头；所述光子晶体具有相互平行且相同的第一线缺陷波导和第二线缺陷波导，所述激光器位于第一线缺陷波导的左侧，并且向该第一线缺陷波导输入探测光，所述第一光功率探头位于所述第一线缺陷波导的右侧，并测定该第一线缺陷波导输出光的功率，所述第二光功率探头位于所述第二线缺陷波导的右侧，并测定该第二线缺陷波导输出光的功率。
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