[发明专利]发光二极管测试方法及在该方法中使用的发光二极管型材无效
| 申请号： | 201110068437.5 | 申请日： | 2011-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN102692592A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | 陈滨全;林新强;曾文良 | 申请（专利权）人： | 展晶科技（深圳）有限公司;荣创能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种发光二极管测试方法，包括步骤：提供引线框，该引线框包括外框及位于外框内的若干接线区，每一接线区包括第一引脚及与第一引脚断开的第二引脚；在引线框上形成绝缘的支架，支架覆盖各接线区并开设暴露各接线区第一引脚及第二引脚的凹槽；去除引线框的部分区域，使二第一侧壁与相邻的连接段及第二侧壁断开；在各凹槽内固定发光芯片并将发光芯片电连接至相应的第一引脚及第二引脚；在各凹槽内形成覆盖发光芯片的封装层；将电流引入相应的第一引脚及第二引脚而使至少一列发光芯片发光；及根据发光芯片的出光判断各发光芯片的工作情况或光学特性。该方法可减少测试时间，降低成本呢。本发明还公开了一种在上述方法中使用的发光二极管型材。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 测试 方法 使用 | ||
【主权项】：
一种发光二极管测试方法，包括步骤：提供引线框，该引线框包括外框及位于外框内的若干接线区，外框包括二相对的第一侧壁及二相对的第二侧壁，接线区在外框内排列为若干行及若干列，每一接线区包括第一引脚及与第一引脚间隔断开的第二引脚，每一接线区的第一引脚及第二引脚均通过各自的连接段与相邻的接线区或外框连接；在引线框上形成绝缘的支架，支架覆盖各接线区并开设暴露各接线区第一引脚及第二引脚的凹槽；去除引线框的部分区域，使二第一侧壁与相邻的连接段及第二侧壁断开；在各凹槽内固定发光芯片并将发光芯片电连接至相应的第一引脚及第二引脚；在各凹槽内形成覆盖发光芯片的封装层；将靠近一第一侧壁的任一第一引脚与该第一侧壁断开的连接段电连接至第一电极，并将靠近任一第一侧壁的任一第二引脚与该任一第一侧壁断开的连接段电连接至第二电极，从而将电流通入位于该任一第一引脚及任一第二引脚之间的至少一列发光芯片，第一电极与第二电极的极性相反；及根据发光芯片的出光判断各发光芯片的工作情况或光学特性。
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