[发明专利]一种n型Bi2Te3块体材料的力学性能的测试方法无效

专利信息
申请号: 201110071345.2 申请日: 2011-03-23
公开(公告)号: CN102252895A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 李耀刚;闫伟;江莞;王连军;王宏志;张青红 申请(专利权)人: 东华大学
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00;G01N1/28
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所 31233 代理人: 黄志达;谢文凯
地址: 201620 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种n型Bi2Te3块体材料的力学性能的测试方法,包括:(1)粉碎区熔n型Bi2Te3单晶锭棒,过筛选取粒度为80μm的初始粉料,然后放电等离子烧结技术进行块体材料的制备;(2)室温下,将上述烧结的n型Bi2Te3块体样品切成片状,经过粗磨、细磨,并采用1μm的金刚石单面抛光制成MSP样品,利用MSP系统进行样品的断裂性能,动态疲劳和循环疲劳测试。本发明的测试方法简单,适用于片状小样品;样品固定方便,施加循环载荷时样品仍能保持其位置的稳定,确保测试结果有效;通过改变测试模式,可获得n型Bi2Te3块体材料的MSP断裂强度和疲劳性能。
搜索关键词: 一种 bi sub te 块体 材料 力学性能 测试 方法
【主权项】:
一种n型Bi2Te3块体材料的力学性能的测试方法,包括:(1)粉碎区熔n型Bi2Te3单晶锭棒,过筛选取粒度为80μm的初始粉料,然后利用放电等离子烧结技术进行块体材料的制备;(2)室温下,将上述烧结的n型Bi2Te3块体样品切成片状,经过粗磨、细磨,并采用1μm的金刚石单面抛光制成MSP样品,利用MSP系统进行样品的断裂性能,动态疲劳和循环疲劳测试。
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