[发明专利]发热量计算式制作系统、发热量计算式的制作方法、发热量测定系统以及发热量的测定方法有效
申请号: | 201110072741.7 | 申请日: | 2011-03-17 |
公开(公告)号: | CN102253077A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 大石安治;武藤裕行;清田美佐子 | 申请(专利权)人: | 株式会社山武 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01R27/02 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 孙敬国 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够容易计算气体的发热量的发热量计算式制作系统。该发热量计算式制作系统包括:修正系数计算部(322),预先取得与校正气体接触的测温元件所检测的温度以及发热元件的电阻的关系,取得与校正气体接触的测温元件所检测的温度的计测值以及发热元件的电阻的计测值,根据上述关系和温度的计测值,计算发热元件的电阻的计算值,计算出发热元件的电阻的计测值与计算值之比,即修正系数;发热量计算式制作部(302),其取得与多种混合气体接触的测温元件的电阻的计测值,以及发热元件的电阻的计测值,采用修正系数对发热元件的电阻的计测值进行修正,制作以测温元件的电阻以及发热元件的电阻为独立变量、以发热量为从属变量的发热量计算式。 | ||
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【主权项】:
一种发热量计算式制作系统,其特征在于,包括:电阻计算式存储部,其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式,所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度,所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻;系数计算用计测部,其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值;修正系数计算部,将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示温度的独立变量,计算出表示所述发热元件的电阻的计算值,并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比,即修正系数;计算式制作用计测部,其取得表示与多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值,和表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值;计测值修正部,其采用所述修正系数对表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正;和发热量计算式制作部,其根据所述多种混合气体各自的发热量的值、表示与所述多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值,以及表示所述发热元件的电阻的经过修正的计测值,制作包含了表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热量的从属变量的发热量计算式。
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