[发明专利]集成电路有效
| 申请号： | 201110073585.6 | 申请日： | 2011-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN102467959A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 宋清基 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/413 | 分类号： | G11C11/413 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;张文 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路，包括：正常数据储存单元，被配置为在正常操作模式中响应于写入命令、读取命令和地址信号来储存正常数据和输出所储存的正常数据；测试数据储存单元，被配置为在测试操作模式中响应于写入命令来将地址信号储存作为测试数据，并响应于读取命令来输出所储存的测试数据；以及连接选择单元，被配置为基于集成电路是处于正常操作模式和测试操作模式中的第一者还是第二者，来选择性地分别将正常数据储存单元的数据输入/输出端子或测试数据储存单元的数据输出端子连接至全局线。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：正常数据储存单元，所述正常数据储存单元被配置为在正常操作模式中响应于写入命令、读取命令和地址信号来储存正常数据和输出所储存的正常数据；测试数据储存单元，所述测试数据储存单元被配置为在测试操作模式中响应于所述写入命令来将所述地址信号储存作为测试数据，并响应于所述读取命令来输出所储存的所述测试数据；以及连接选择单元，所述连接选择单元被配置为基于所述集成电路是处于所述正常操作模式还是处于所述测试操作模式，来选择性地将所述正常数据储存单元的数据输入/输出端子或所述测试数据储存单元的数据输出端子连接至全局线。
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