[发明专利]一种以黑硅材料为光敏层的背照式Si-PIN光电探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110074473.2 申请日: 2011-03-26
公开(公告)号: CN102176470A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: 李伟;黄璐;赵国栋;吴志明;蒋亚东 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L31/028 分类号: H01L31/028;H01L31/0352;H01L31/075;H01L31/18
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种以黑硅材料为光敏层的背照式Si-PIN光电探测器及其制备方法,属于光电探测技术领域。所述光电探测器包括硅本征衬底、位于硅本征衬底正面中央的P型区、位于硅本征衬底正面四周的环形P+区、位于硅本征衬底背面的N型黑硅层、位于P型区和P+区上表面的上电极,以及位于N型黑硅层下表面两侧的下电极。本发明以黑硅材料为光敏层,同时在P型区2四周增加了环形P+区3,使得本发明能够吸收近红外波段光波,比传统Si光电探测器具有更高的光吸收率和更宽的响应波段,且制备工艺较为简单,具有成本低、易于集成、响应速度快、响应度高和响应波段宽的特点,在大规模市场化方面具有明显的优势。
搜索关键词: 一种 材料 光敏 背照式 si pin 光电 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种以黑硅材料为光敏层的背照式Si‑PIN光电探测器,包括硅本征衬底(1)、位于硅本征衬底(1)正面中央的P型区(2)、位于硅本征衬底(1)正面四周的环形P+区(3)、位于硅本征衬底(1)背面的N型黑硅层(4)、位于P型区(2)和P+区(3)上表面的上电极(5),以及位于N型黑硅层(4)下表面两侧的下电极(6);其中P+区(3)的结深大于P型区(2)的结深。
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