[发明专利]一种以黑硅材料为光敏层的背照式Si-PIN光电探测器及其制备方法有效
申请号: | 201110074473.2 | 申请日: | 2011-03-26 |
公开(公告)号: | CN102176470A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 李伟;黄璐;赵国栋;吴志明;蒋亚东 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/028 | 分类号: | H01L31/028;H01L31/0352;H01L31/075;H01L31/18 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种以黑硅材料为光敏层的背照式Si-PIN光电探测器及其制备方法,属于光电探测技术领域。所述光电探测器包括硅本征衬底、位于硅本征衬底正面中央的P型区、位于硅本征衬底正面四周的环形P+区、位于硅本征衬底背面的N型黑硅层、位于P型区和P+区上表面的上电极,以及位于N型黑硅层下表面两侧的下电极。本发明以黑硅材料为光敏层,同时在P型区2四周增加了环形P+区3,使得本发明能够吸收近红外波段光波,比传统Si光电探测器具有更高的光吸收率和更宽的响应波段,且制备工艺较为简单,具有成本低、易于集成、响应速度快、响应度高和响应波段宽的特点,在大规模市场化方面具有明显的优势。 | ||
搜索关键词: | 一种 材料 光敏 背照式 si pin 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种以黑硅材料为光敏层的背照式Si‑PIN光电探测器,包括硅本征衬底(1)、位于硅本征衬底(1)正面中央的P型区(2)、位于硅本征衬底(1)正面四周的环形P+区(3)、位于硅本征衬底(1)背面的N型黑硅层(4)、位于P型区(2)和P+区(3)上表面的上电极(5),以及位于N型黑硅层(4)下表面两侧的下电极(6);其中P+区(3)的结深大于P型区(2)的结深。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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