[发明专利]形状测量设备用的公差检测方法和公差检测装置有效

专利信息
申请号: 201110074851.7 申请日: 2011-03-24
公开(公告)号: CN102692181A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 樱田淳二 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B7/28 分类号: G01B7/28
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 形状测量设备用的公差检测方法和公差检测装置。在检测具有复杂形状使得难以执行连续测量的被测对象的形状的公差时,读取设定的多个部分测量数据。接着,根据第一部分测量数据设定基准位置。然后,利用基准位置将各部分测量数据组合成为一个数据。另外,使用组合后的数据计算公差。
搜索关键词: 形状 测量 备用 公差 检测 方法 装置
【主权项】:
一种形状测量设备用的公差检测方法,所述方法包括:读取设定的多个部分测量数据;根据所述多个部分测量数据的第一部分测量数据设定基准位置;使用所述基准位置将所述多个部分测量数据的各部分测量数据组合成为一个数据集;和使用组合的所述数据集计算公差。
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