[发明专利]光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器有效

专利信息
申请号: 201110074890.7 申请日: 2011-03-24
公开(公告)号: CN102235910A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 大久保和明;田口都一 申请(专利权)人: 大*电子株式会社
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02;G01M11/02;G02B6/26
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器。光学测量装置包括:光谱测量器(50);用于传输作为测量对象的光的第1光纤(20);在内壁上具有光扩散反射层(1a)的半球部(1);以封闭半球部的开口部的方式配置的、在半球部的内壁侧具有镜面反射层(2a)的平面部(2)。平面部包括用于将通过第1光纤而被射出的光向由半球部和平面部形成的积分空间内导通的第1窗(5)。光学测量装置还包括将积分空间内的光透过平面部的第2窗(6)而向光谱测量器传输的第2光纤(30)。
搜索关键词: 光学 测量 装置 系统 以及 光纤 耦合器
【主权项】:
一种光学测量装置,其包括:光谱测量器;第1光纤,其用于传输作为测量对象的光;半球部,在其内壁上具有光扩散反射层;平面部,其被配置成封闭上述半球部的开口部,在上述半球部的内壁侧具有镜面反射层,上述平面部包括用于将通过上述第1光纤而被射出的光向由上述半球部和上述平面部形成的积分空间内导通的第1窗,该光学测量装置还包括用于使上述积分空间内的光透过上述平面部的第2窗而向上述光谱测量器传输的第2光纤。
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