[发明专利]半导体组件及其制作方法有效
申请号: | 201110078201.X | 申请日: | 2011-03-24 |
公开(公告)号: | CN102468179A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 苏如意;杨富智;蔡俊琳;郑志昌;柳瑞兴 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/266;H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种高电压半导体组件的制作方法及半导体组件。此方法包含指定第一、第二与第三区于一基材中。第一与第二区分别为半导体组件的源极与漏极将形成的区域。第三区分开第一与第二区。此方法还包含形成一有沟槽的植入屏蔽层至少部分地位于第三区上方。此方法亦包含将数个掺质植入第一、第二与第三区中。在植入期间,有沟槽的植入屏蔽层保护在其下方的第三区的部分。此方法还包含以一方式回火基材,以造成掺质在第三区中扩散。 | ||
搜索关键词: | 半导体 组件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体组件的制作方法,其特征在于,包含:形成一植入屏蔽层于一基材上,该植入屏蔽层具有多个屏蔽构件,该些屏蔽构件由多个开口所隔开,其中该些开口分别对齐该基材的多个第一区,且该些屏蔽构件分别对齐该基材的多个第二区;透过该些开口,将多个掺质离子植入该基材的该些第一区中;以及以一方式回火该基材,以使植入的该些掺质离子从该些第一区扩散至该些第二区中,该方式是使回火该基材的步骤后的该些第一区的多个掺质浓度程度等于该些第二区的多个掺质浓度程度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110078201.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造