[发明专利]半导体组件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110078201.X 申请日: 2011-03-24
公开(公告)号: CN102468179A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 苏如意;杨富智;蔡俊琳;郑志昌;柳瑞兴 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/266;H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种高电压半导体组件的制作方法及半导体组件。此方法包含指定第一、第二与第三区于一基材中。第一与第二区分别为半导体组件的源极与漏极将形成的区域。第三区分开第一与第二区。此方法还包含形成一有沟槽的植入屏蔽层至少部分地位于第三区上方。此方法亦包含将数个掺质植入第一、第二与第三区中。在植入期间,有沟槽的植入屏蔽层保护在其下方的第三区的部分。此方法还包含以一方式回火基材,以造成掺质在第三区中扩散。
搜索关键词: 半导体 组件 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体组件的制作方法,其特征在于,包含:形成一植入屏蔽层于一基材上,该植入屏蔽层具有多个屏蔽构件,该些屏蔽构件由多个开口所隔开,其中该些开口分别对齐该基材的多个第一区,且该些屏蔽构件分别对齐该基材的多个第二区;透过该些开口,将多个掺质离子植入该基材的该些第一区中;以及以一方式回火该基材,以使植入的该些掺质离子从该些第一区扩散至该些第二区中,该方式是使回火该基材的步骤后的该些第一区的多个掺质浓度程度等于该些第二区的多个掺质浓度程度。
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