[发明专利]基于光学测量空心涡轮叶片蜡模壁厚检测方法无效

专利信息
申请号: 201110080193.2 申请日: 2011-03-31
公开(公告)号: CN102230786A 公开(公告)日: 2011-11-02
发明(设计)人: 程云勇;卜昆;张定华;黄魁东;董一巍;张现东;窦杨柳;刘金钢;杨小宁;袁帅;傅蒋威;周丽敏;乔燕;张亮;黄胜利;徐岳琳;窦杨青 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 顾潮琪
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于光学测量空心涡轮叶片蜡模壁厚检测方法,用光学扫描仪获取陶芯数据和蜡模数据;在陶芯和蜡模上依次进行预配准和精细配准;将陶芯和蜡模的测量模型与跟它们相垂直的平面相交,所获得交线即为跟陶芯和蜡模模型相垂直的平面所在层面上的陶芯和蜡模的对应截面线,至少取5个截面线;根据陶芯和蜡模各层位置的截面线,运用最短距离法计算得出蜡模在各层位置的壁厚;将各层面蜡模的壁厚分布沿层面高度的方向叠加,即可得到蜡模的三维壁厚分布。本发明测量成本低,简单、方便,保证壁厚计算的准确性和稳定性,易于实现批量检测测量。
搜索关键词: 基于 光学 测量 空心 涡轮 叶片 蜡模壁厚 检测 方法
【主权项】:
一种基于光学测量空心涡轮叶片蜡模壁厚检测方法,其特征在于包括下述步骤:步骤1用光学扫描仪获取陶芯数据,再将陶芯压蜡,用光学扫描仪测量蜡模数据;步骤2在陶芯和蜡模上选取对应的三点进行预配准,再选取陶芯和蜡模的特征公共面进行精细配准;步骤3将陶芯和蜡模的测量模型与跟它们相垂直的平面相交,所获得交线即为跟陶芯和蜡模模型相垂直的平面所在层面上的陶芯和蜡模的对应截面线;至少取5个截面线;步骤4根据陶芯和蜡模各层位置的截面线,运用最短距离法计算得出蜡模在各层位置的壁厚;步骤5将各层面蜡模的壁厚分布沿层面高度的方向叠加,即可得到蜡模的三维壁厚分布。
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