[发明专利]电子装置和操作检测方法无效
申请号: | 201110083517.8 | 申请日: | 2011-03-31 |
公开(公告)号: | CN102214037A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 丸山重明 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈炜;李春晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种电子装置和操作检测方法。该电子装置包括:包括多个第一导电层的输入平面部件,当从用户接收到按压操作时,所述输入平面部件弹性变形;基板,所述基板包括在所述输入平面部件变形时与所述第一导电层接触的多个第二导电层;电容检测单元,所述电容检测单元检测所述多个第一导电层之间以及所述多个第二导电层之间的电容;电阻值检测单元,所述电阻值检测单元检测当所述第一导电层与所述第二导电层接触时所述第一导电层与所述第二导电层之间的电阻值;以及切换单元,所述切换单元控制所述第一导电层和所述第二导电层与所述电容检测单元和所述电阻值检测单元中的任一个之间的电连接。 | ||
搜索关键词: | 电子 装置 操作 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种电子装置,包括:输入平面部件,所述输入平面部件包括形成为岛状的多个第一导电层,并且当从用户接收到按压操作时,所述输入平面部件弹性变形;基板,所述基板被布置为面对所述输入平面部件,并且包括在所述输入平面部件变形时与所述第一导电层接触的岛状的多个第二导电层;电容检测单元,所述电容检测单元检测所述多个第一导电层之间以及所述多个第二导电层之间的电容;电阻值检测单元,所述电阻值检测单元检测当所述第一导电层与所述第二导电层因所述输入平面部件的变形而接触时所述第一导电层与所述第二导电层之间的电阻值;以及切换单元,所述切换单元控制所述第一导电层和所述第二导电层与所述电容检测单元和所述电阻值检测单元中任一个之间的电连接。
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