[发明专利]一种提高重掺砷单晶轴向电阻率均匀性的方法有效

专利信息
申请号: 201110084578.6 申请日: 2011-04-06
公开(公告)号: CN102162124A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 张雪囡;康冬辉;李建弘;徐强;沈浩平 申请(专利权)人: 天津市环欧半导体材料技术有限公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B15/04;C30B15/20;C30B29/06
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 莫琪
地址: 300384 天津市南开*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明一种提高重掺砷单晶轴向电阻率均匀性的方法,所述方法包括如下次序的步骤:(1)随着硅单晶的生长进度调整炉压,随着单晶的生长,炉压由高到低逐步降低,且炉压最高为70torr,最低为10torr;(2)执行步骤(1)同时调整Ar气流量,Ar气流量逐步提高,且流量最高为80slpm,最低为20slpm。本方法的优点是:提高了重掺砷硅单晶的轴向电阻率均匀度:(ρmax-ρmin)/ρmin<28%;降低了扩散层掺杂剂砷的浓度,降低了组分过程发生的可能性,提高了成晶率。
搜索关键词: 一种 提高 重掺砷单 晶轴 电阻率 均匀 方法
【主权项】:
一种提高重掺砷单晶轴向电阻率均匀性的方法,其特征在于,所述方法包括如下次序的步骤:步骤一、随着硅单晶的生长进度调整炉压,随着单晶的生长,炉压由高到低逐步降低,且炉压最高为70torr,最低为10torr;步骤二、执行步骤一过程的同时调整Ar气流量,Ar气流量逐步提高,且流量最高为80slpm,最低为20slpm;步骤三、执行步骤一和步骤二过程中:当硅单晶的生长长度为10%时,炉压为70 torr;Ar气流量为20 slpm;当硅单晶的生长长度为20%时,炉压为67.5torr;Ar气流量为34.6 slpm;当硅单晶的生长长度为30%时,炉压为64 torr;Ar气流量为44.4 slpm;当硅单晶的生长长度为40%时,炉压为60.5 torr;Ar气流量为51.2 slpm;当硅单晶的生长长度为50%时,炉压为55.7 torr;Ar气流量为58.3 slpm;当硅单晶的生长长度为60%时,炉压为50 torr;Ar气流量为63.1 slpm;当硅单晶的生长长度为70%时,炉压为43.8 torr;Ar气流量为68 slpm;当硅单晶的生长长度为80%时,炉压为35 torr;Ar气流量为72.7 slpm;当硅单晶的生长长度为90%时,炉压为24 torr;Ar气流量为77.1 slpm;当硅单晶的生长长度为100%时,炉压为10 torr;Ar气流量为80 slpm;获得的重掺砷硅单晶的轴向电阻率均匀度:(ρmax‑ρmin)/ρmin<28%。
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