[发明专利]用于单试剂及多试剂法检测的集成芯片及检测方法有效
| 申请号： | 201110086070.X | 申请日： | 2011-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN102253226A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | 王战会;陈坦 | 申请（专利权）人： | 天津微纳芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/08 |
| 代理公司： | 天津才智专利商标代理有限公司 12108 | 代理人： | 王晓红 |
| 地址： | 300457 天津市塘沽区开发*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于单试剂及多试剂法检测的集成芯片及检测方法，包括用于加样的通孔、一组槽、微反射面、连接各槽间的微流道，所述的芯片分为上中下三层，所述三层之间分别水密性地相连；所述芯片上层和/或中层设有一组用于加样的通孔；所述芯片上层的上表面设有一组用于保护通光面的浅槽；所述的芯片下层设有一组槽和一组微反射面；连接各槽间的微流道设置在相应的芯片层上。通过该芯片可以一次性自动化完成样品溶液的前处理、定量输送、反应并对溶液中成分的含量或浓度进行检测，既能满足多指标单试剂法的检测，也能用于多指标双试剂法及多试剂法的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 试剂 检测 集成 芯片 方法 | ||
【主权项】：
一种用于单试剂及多试剂法检测的集成芯片，包括用于加样的通孔、一组槽、微反射面、连接各槽间的微流道，其特征在于：所述的芯片分为上中下三层，所述的芯片上层与中层及所述的芯片中层与下层分别水密性地相连；所述芯片上层和/或中层设有一组用于加样的通孔；所述芯片上层的上表面设有一组用于保护通光面的浅槽；所述的芯片下层设有一组槽和一组微反射面；连接各槽间的微流道设置在相应的芯片层上。
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