[发明专利]用于激光和发光二极管的温度测量和控制有效

专利信息
申请号: 201110087043.4 申请日: 2011-03-30
公开(公告)号: CN102313610A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: L·D·卡斯蒂略;D·伊 申请(专利权)人: 微软公司
主分类号: G01K7/00 分类号: G01K7/00;H01S5/042
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱静芳
地址: 美国华*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种用于激光和发光二极管的温度测量和控制方法和系统。使用LED或激光二极管封装中的现有二极管来测量LED或激光二极管的结温度。二极管的光或激光发射通过去除施加到二极管封装的工作驱动电流来关闭。可以比工作驱动电流低的基准电流被施加到二极管封装。二极管的所得的正向电压使用电压测量电路来测量。使用二极管的固有的电流-电压-温度关系,可确定二极管的实际结温度。所得的正向电压可以在反馈回路中使用,以便在确定或不确定实际结温度的情况下提供对二极管封装的温度调节。二极管封装中的光电二极管或发射二极管的所测得的正向电压可用于确定发射二极管的结温度。
搜索关键词: 用于 激光 发光二极管 温度 测量 控制
【主权项】:
一种操作发射二极管来进行结温度确定的方法,包括:以足以使所述发射二极管能够发射的电平将驱动电流施加到所述发射二极管(302);从所述发射二极管中去除所述驱动电流(304);在从所述发射二极管去除了所述驱动电流之后,以小于所述驱动电流电平的电平向所述发射二极管提供基准电流(308);在施加了所述基准电流的情况下确定所述发射二极管的正向电压电平(310);以及基于所述正向电压电平来控制所述发射二极管的工作温度(314)。
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