[发明专利]一种测量涂层耐腐蚀性能的方法无效
| 申请号： | 201110087749.0 | 申请日： | 2011-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN102735601A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 王文东;刘邦武;夏洋;李超波;罗小晨;李勇滔 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01B7/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量涂层耐腐蚀性能的方法，该方法是利用测量涂层电容的方法来表征涂层耐腐蚀性能的，具体包括：先将一部分涂层的表面浸于腐蚀性溶液的底部，使涂层下的导电基体与腐蚀性溶液构成一个平板电容器，该平板电容器的电容值与涂层的厚度相关，通过测量该平板电容器电容值的变化来确定涂层厚度的变化，从而根据涂层厚度随时间的变化定量地反映出涂层的耐腐蚀性能。与现有的测量技术相比，本发明的特点是测量涂层的范围增大，特别适合测量高电阻的涂层材料，并对涂层材料的污染不敏感。另外本测量方法的反应速度灵敏，可迅速反映出材料涂层的腐蚀状态。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 涂层 腐蚀 性能 方法 | ||
【主权项】：
一种测量涂层耐腐蚀性能的方法，其特征在于，该方法是利用测量涂层电容的方法来表征涂层耐腐蚀性能的，具体包括：先将一部分涂层的表面浸于腐蚀性溶液的底部，使涂层下的导电基体与腐蚀性溶液构成一个平板电容器，该平板电容器的电容值与涂层的厚度相关，通过测量该平板电容器电容值的变化来确定涂层厚度的变化，根据涂层厚度随时间的变化定量地反映出涂层的耐腐蚀性能。
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