[发明专利]一种具有较大带隙的氮铟镓薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110087842.1 申请日: 2011-04-08
公开(公告)号: CN102206812A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 薛玉明;宋殿友;朱亚东;裴涛;汪子涵;王一;牛伟凯;王金飞;周凯;李石亮;姜舒博;杨醒 申请(专利权)人: 天津理工大学
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/44;C23C14/06;C23C14/35
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300384 天津市南*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种具有较大带隙的氮铟镓薄膜,其化学分子式为InxGa1-xN,式中x为0.05~0.3,该氮铟镓薄膜,由衬底和该衬底表面形成的一层氮铟镓薄膜构成,所述氮铟镓薄膜的厚度为0.6-1.5µm;其制备方法是:首先在MOCVD沉积系统的进样室中,对衬底表面进行表面等离子体清洗,然后在MOCVD沉积系统的沉积室中,采用磁控溅射工艺在衬底表面沉积一层氮铟镓薄膜。本发明的优点是:具有较大带隙的氮铟镓薄膜,提供了对应于太阳光谱几乎完美的匹配带隙,为利用单一半导体材料来设计、制备更为高效的多结太阳电池提供了可能,且其吸收系数高,载流子迁移率高,抗辐射能力强;其制备方法工艺条件方便易行,有利于大规模推广应用。
搜索关键词: 一种 具有 较大 氮铟镓 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种具有较大带隙的氮铟镓薄膜,其特征在于:化学分子式为InxGa1‑xN,式中x为0.05~0.3,该氮铟镓薄膜,由衬底和该衬底表面形成的一层氮铟镓薄膜构成,所述氮铟镓薄膜的厚度为0.6‑1.5µm。
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