[发明专利]一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法有效
| 申请号： | 201110087882.6 | 申请日： | 2011-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN102230975A | 公开（公告）日： | 2011-11-02 |
| 发明（设计）人： | 杨奎;李启磊;王满仓 | 申请（专利权）人： | 上海瑞示电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京纽乐康知识产权代理事务所 11210 | 代理人： | 唐忠庆 |
| 地址： | 201103 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法，包括以下步骤：1）计算探测器的投影比例因子：根据通道式X射线安全检测设备中X射线源、物体通道平面以及探测板三者之间的位置关系，计算每一块探测器板及板上各探测器的投影比例因子；2）计算探测器形变校正因子：针对每一个探测器，分别计算得到一个形变校正因子；3）插值放大处理：根据形变校正因子的差异，对透射图像各像素点进行插值放大处理，得到形变校正结果图像。本发明的有益效果为：可以在现有通道式X射线安全检查设备的基础上，不增加任何硬件成本，仅通过本发明图像形变校正方法实现对透射图像的形变校正，减少安检员的漏判和误判。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通道 射线 安全检查 设备 透射 图像 形变 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1）计算探测器的投影比例因子：根据通道式X射线安全检测设备中X射线源、物体通道平面以及探测板三者之间的位置关系，计算每一块探测器板及板上各探测器的投影比例因子；2）计算探测器形变校正因子：针对每一个探测器，分别计算得到一个形变校正因子，形变校正因子用于对经过步骤1）获得的投影比例因子进行修正；3）插值放大处理：以经过步骤2）获得的探测器的形变校正因子为依据，对透射图像进行形变校正，根据形变校正因子的差异，对透射图像各像素点进行插值放大处理，得到形变校正结果图像。
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