[发明专利]用电磁波相位测量微波器件无源互调发生点的方法和系统

摘要

本发明公开了一种用电磁波相位测量微波器件无源互调发生点的方法和系统。频率不同的两路信号经过合路器合并为一路，之后经过双工器TX端进入被测器件，在被测器件中发生无源互调，一部分互调产物返回双工器，经过RX端进入接收回路。发射回路中两路不同频率信号进过混频后可以提取出与互调产物同频率的信号分量，将此信号分量与得到的互调产物进行相位比较，排除测量系统导致的相位差之后，得到信号在测量设备中来回所产生的相位差。根据相位差分析得到无源互调发生的位置。本发明利用电磁波相位与传输距离的关系，结合中国余数定理实现的测量无源互调发生点的方法，能精确的测定微波器件无源互调发生位置，从而为快速解决无源互调问题提供支持。

主权项

一种用电磁波相位测量微波器件无源互调发生点的方法，其特征在于：1）利用相位比较器获得信号来回所产生的相位差，无源互调发生点距离被测器件的输入端口的距离信息反映在相位差上；2）当被测器件的长度大于电磁波在器件内相位改变半个周期的长度时，需要增加一组频率不同的信号，根据增加的这一组信号所获得的相位差，结合中国余数定理，可以降低无源互调发生点距离输入端口的距离模糊度，如果在增加了一组频率的基础上，被测器件的长度仍然大于可测长度，需要再增加一组频率，依此类推。