[发明专利]一种牙颌模型测量装置有效
| 申请号： | 201110088369.9 | 申请日： | 2011-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN102213584A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 尹周平;宋俊;吴谋虎;姚金树;黄信达;李文龙 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光栅投影的牙颌模型测量装置，用于牙颌模型的非接触式测量，包括牙模定位模块、光路调整模块和视觉测量模块，其中，所述牙模定位模块用于装夹待测量的牙颌模型，并实现对牙颌模型的姿态调整；所述视觉测量模块设置在所述光路调整模块上，用于对牙颌模型进行扫描测量；所述光路调整模块用于对视觉测量模块的测量角度进行调整，在光路调整模块和牙模定位模块的作用下，确定出牙颌模型的测量姿态和角度，从而实施对牙颌模型的扫描测量。该测量装置可便捷地调节微型投影仪与工业相机的位置，实现光路的快速调整；可便捷可靠地装夹牙颌模型，实现测量过程的稳定操作；可便捷地进行非接触式测量，实现牙颌模型点云数据的精确获取。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模型 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种牙颌模型测量装置，用于牙颌模型的非接触式测量，该测量装置包括牙模定位模块、光路调整模块和视觉测量模块，其中，所述牙模定位模块用于装夹待测量的牙颌模型，并实现对牙颌模型的姿态调整；所述视觉测量模块设置在所述光路调整模块上，用于对牙颌模型进行扫描测量；所述光路调整模块用于对视觉测量模块的测量角度进行调整，在所述光路调整模块和牙模定位模块的作用下，确定出所述牙颌模型的测量姿态和角度，从而实施对牙颌模型的扫描测量。
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