[发明专利]自动优化存储器性能的可编程内建自测系统和方法在审
| 申请号： | 201110092561.5 | 申请日： | 2011-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN102737725A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 林殷茵;严冰 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 | 代理人： | 吴桂琴 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种自动优化存储器性能的可编程内建自测系统的内建自测系统和方法，所述方法包括以下步骤：在一种测试工作方案下对存储器进行测试，故障计数与暂存模块（110）记录在此过程中检测到的故障数量；改变测试工作方案，重复上述操作；当遍历所有的方案后，通过工作方案比较与确定模块（111）比较各种工作方案并确定最优的方案作为存储器的测试工作方案。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 优化 存储器 性能 可编程 自测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种自动优化存储器性能的可编程内建自测系统，包括由指令存储器（101）、指令译码器（102）和程序计数器（103）组成的微处理器，读写控制器（104），地址产生器（105）和数据产生器（106），以及输出响应分析模块（108）和故障信息输出模块（109），其特征在于，所述的系统还包括：故障计数与暂存模块（110），用于记录在各种工作方案下检测到的故障数量，并予以保存；工作方案比较与确定模块（111），用于比较各种工作方案下的测试结果并确定最优的方案组合作为该颗存储器芯片的最终工作方案。
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