[发明专利]加热装置和低温液体的液位检测系统无效

专利信息
申请号: 201110095538.1 申请日: 2011-04-15
公开(公告)号: CN102740512A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 赖胜;李明 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H05B3/00 分类号: H05B3/00;H05B3/06;G01F23/68
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明公开了一种加热装置和一种低温液体的液位检测系统。该加热装置用于加热安装于低温容器中的对低温液体液位进行测量的超导体,且包括:电阻加热器和与电阻加热器相连的浮标。其中,浮标漂浮在低温液体表面,能够随着低温容器中液位的变化进行上升或下降,以使得电阻加热器对低温容器中的液面以上的超导体进行加热;电阻加热器能够对超导体进行加热。液位检测系统包括上述加热装置、超导体和与超导体相连的液位确定装置。通过加热装置和液位检测系统,可以总是加热液面以上的那部分超导体而不加热液面以下的那部分超导体,因而把低温液体的挥发损耗降到最小,提高液位检测灵敏度。
搜索关键词: 加热 装置 低温 液体 检测 系统
【主权项】:
一种加热装置,用于加热安装于低温容器(110)中的对低温液体液位进行测量的超导体(100),所述加热装置(10)包括:电阻加热器(101)和与所述电阻加热器(101)相连的浮标(103);其中,所述浮标(103)漂浮在所述低温液体表面,能够随着所述低温容器(110)中液位的变化进行上升或下降,以使得所述电阻加热器(101)仅对所述低温容器(110)中的液面以上的超导体进行加热;所述电阻加热器(101)能够对所述超导体(100)进行加热。
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