[发明专利]一种槽型功率MOSFET器件无效
申请号: | 201110097449.0 | 申请日: | 2011-04-19 |
公开(公告)号: | CN102184941A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 张波;胡夏融;罗小蓉;李泽宏;邓小川;雷天飞;姚国亮;王元刚 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 冉鹏程 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种槽型功率MOSFET器件,涉及半导体功率器件和射频功率器件技术领域。通过N+槽区纵向穿过衬底直到器件底部,将表面N+源区、源极金属场板和底部N+源接触区连通形成等势体,源极从器件底部引出。这不仅消除了源极的外延线电感,降低源极串联电阻,而且提供良好的导热通道利于器件的双面冷却。同时,延伸的源金属场板覆盖于轻掺杂漏区(LDD)之上,降低栅极末端的高电场峰值,并辅助轻掺杂漏区(LDD)耗尽降低栅漏电容。轻掺杂漏区、源金属场板及下方P-衬底的电荷平衡作用,使轻掺杂漏区的载流子浓度提高,器件导通电阻降至最低。本发明在保证低的比导通电阻的前提下降低了栅电荷,从而使得器件具有更低的功耗,具有良好的散热特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 mosfet 器件 | ||
【主权项】:
一种槽型功率MOSFET器件,包括P‑衬底,P‑衬底顶部的N+源区、P阱区、轻掺杂漏区和N+漏区,P‑衬底部的N+源接触区,栅氧化物、场氧化物、表面源极金属场板、隔离氧化物,以及源电极、漏电极和栅电极,其特征在于:还包括N+槽区,N+槽区的纵向长度穿过P‑衬底直到器件底部的N+源接触区,将表面的N+源区、表面源极金属场板和底部的N+源接触区连通形成等势体,所述背面N+源接触区引出端为源电极;所述的表面源极金属场板覆盖于所述的轻掺杂漏区之上,并覆盖于除栅电极和漏电极区域以外的整个器件表面。
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